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HR-8160 分立器件综合老化系统
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系统适用于各种封装的二极管、三极管、MOS管、桥堆等分立器件进行常温寿命试验(OP-LIFE)和间隙寿命试验(IO-LIFE)。主要技术指标和性能:
系统特点 2个通断控制区,8通道,640工位,不检测 符合标准 符合MIL、GJB、JEDEC、GB试验要求 器件保护方式 保险丝或其它方式 试验容量 试验通道 8个试验通道 试验容量 80位/通道*8通道=640位 试验风道 8个循环风道,相互隔离 老化电源 试验种类 稳态/间隙试验可选择 通断控制 2个通断控制器 间隙设置 通电时间、断电时间、通断次数可设置(间隙试验) 电源种类 15V / 25V / 60V / 100V / (双路电源,2KW) 电源功能 数字显示,过压,欠压、过流、短路保护;高可靠。 驱动检测板 数量 8块(电源输入控制板) 电压检测 范围:0~100V,精度:±1%±2LSB 电流检测 范围:1mA~10A,精度:2%±2LSB 老化板老化座 种类 几十种按标准设计的老化板供用户选择,PCB加工工艺特殊处理 材质 FR4 / FR5(Tg=190℃) 尺寸 322mm*580mm 老化座 各种耐高温老化座,可根据用户要求开发定制,长期耐受175℃高温 供电要求 AC220V单相,10KW 外形尺寸(W*D*H) 重量 约400Kg
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