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HR-0845高温反偏老化系统
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系统适用于各种封装的二极管、三极管、MOSFET、桥堆和可控硅等分立器件进行高温反偏、高温栅偏的电耐久性试验(HTGB/HTRB)、高温漏电流测试(H.T.I.R)和老化筛选。主要技术指标和性能:
系统特点 单温区,8通道,640位,不检测H.T.I.R 符合标准 符合MIL、GJB、JEDEC、GB试验要求 器件保护方式 快速熔断保险丝 高温试验箱 型号 ESPEC LC-213(1台,单温区) 内容积 竖向风道,内容积:450mm*450mm*450mm 温度范围 室温~200℃ 试验容量 试验通道 8通道 试验容量 80位/通道*8通道=640位 试验电源 电源种类 100V / 200V / 300V / 600V / 800V / 1000V / 1200V / 1500V / 2000V 电源功能 数字显示,过压,欠压、过流、短路保护;高可靠。 驱动检测板 数量 8块(电源输入控制板) 功能 老化板插入指示功能 高压保护 防高压击穿保护电路,在2000V高压击穿情况下,无击穿和飞弧现象 报警 HTIR超限报警,时间点可查询 老化板老化座 种类 几十种按标准设计的老化板供用户选择,PCB加工工艺特殊处理 材质 FR5(Tg=170℃) / Polymide(Tg=260℃) 耐温 老化板长期耐受150℃/175℃高温 尺寸 280mm*450mm 老化座 各种耐高温老化座,可根据用户要求开发定制,长期耐受175℃高温 供电要求 AC220V单相,8KW 外形尺寸(W*D*H) 120*120*190(cm) 重量 约300Kg
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