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HR-1645R高温反偏老化系统
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系统适用于各种封装的二极管、三极管、MOSFET、桥堆和可控硅等分立器件进行高温反偏、高温栅偏的电耐久性试验(HTGB/HTRB)、高温漏电流测试(H.T.I.R)和老化筛选。计算机全程监测每个试验器件的试验参数,并且绘制出全程HTGB/HTRB、HTIR试验参数曲线,数据可转换成Excel表格供用户保存和分析。
特点 双温区,16通道,1280工位,H.T.I.R检测 符合标准 符合MIL、GJB、JEDEC、GB试验要求 器件保护方式 快速熔断保险丝 高温试验箱 型号 ESPEC LC-213(2台,双温区) 内容积 竖向风道,内容积:450mm*450mm*450mm 温度范围 室温~200℃ 试验容量 试验通道 8通道/温区*2温区 试验容量 80位/通道*16通道=1280位(最大) 试验电源 电源种类 100V / 200V / 300V / 600V / 800V / 1000V / 1200V / 1500V / 2000V 电源功能 数字显示,过压,欠压、过流、短路保护;高可靠。 驱动检测板 数量 16块(相互独立,自带CPU) 电压检测 范围:0~2000V,精度:±1%±2LSB 漏电流检测 范围:0.1µA~50mA,精度:1%±2LSB 高压保护 防高压击穿保护电路,在2000V高压击穿情况下,无击穿和飞弧现象 主控计算机 主机 计算机(可选配工控机) 显示屏 12”彩色液晶显示屏(可选配触摸屏) 软件界面 基于Widows XP界面,使用方便 数据记录 全程监测,表格(EXCEL)、曲线方式保存 报警 HTIR超限报警,时间点可查询 老化板老化座 种类 几十种按标准设计的老化板供用户选择,PCB加工工艺特殊处理 材质 FR5(Tg=170℃) / Polymide(Tg=260℃) 耐温 老化板长期耐受150℃/175℃高温 尺寸 280mm*450mm 老化座 各种耐高温老化座,可根据用户要求开发定制,长期耐受175℃高温 供电要求 AC220V单相,8KW 外形尺寸(W*D*H) 140*120*190(cm) 重量 约500Kg
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