上海高温反偏老化系统

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系统适用于各种封装的二极管、三极管、MOSFET、桥堆

和可控硅等分立器件进行高温反偏、高温栅偏的电耐久性试

验（HTGB/HTRB）、高温漏电流测试（H.T.I.R）和老化筛选。

 

 

 

 

 

主要技术指标和性能：

系统特点		单温区，24通道，2480工位，不监测H.T.I.R
符合标准		符合MIL、GJB、JEDEC、GB试验要求
器件保护方式		快速熔断保险丝
高温 试验箱	型号	ESPEC 高温试验箱
	内容积	横向风道，内容积：600mm*600mm*600mm
	温度范围	室温～200℃
试验 容量	试验通道	24个试验通道
	试验容量	80位/通道*24通道=2480位
试验 电源	电源种类	100V / 200V / 300V / 600V / 800V / 1000V / 1200V / 1500V / 2000V
	电源功能	数字显示、过压、恒流、短路保护、高可靠
驱动 检测板	数量	24块（电源输入控制板）
	功能	老化板插入指示功能
	高压保护	防高压击穿保护电路，在2000V高压击穿情况下，无击穿和飞弧现象
老化板 老化座	种类	几十种按标准设计的老化板供用户选择，PCB加工工艺特殊处理
	材质	FR5(Tg=170℃) /   Polymide（Tg=260℃）
	耐温	老化板长期耐受150℃/175℃高温
	尺寸	176mm*600mm
	老化座	各种耐高温老化座，可根据用户要求开发定制，长期耐受175℃高温
供电要求		AC220V单相，8KW
外形尺寸（W*D*H）		127*134*200（cm）
重量		约500Kg